?特殊光路設(shè)計(jì)，硬件上可實(shí)現(xiàn)波數(shù)等間隔采樣
?干涉光譜可直接FFT，無需波數(shù)重采樣算法，降低數(shù)據(jù)處理復(fù)雜度，提升系統(tǒng)信噪比
?高效的VPH光柵，接近衍射極限的光學(xué)分辨率
?高線掃描速率：高達(dá)250kHz
?USB3.0接口可實(shí)現(xiàn)20-130kHz掃描速率，OEM更加高效簡單
?波長范圍、相機(jī)均可根據(jù)需求定制
?工藝穩(wěn)固成熟，無需頻繁校準(zhǔn)
產(chǎn)品簡介鑒知技術(shù)ST830E光譜儀是一款高速、穩(wěn)定的商用OCT光譜儀?？捎糜谘鲃?dòng)力學(xué)和振動(dòng)測量、真皮脈管系統(tǒng)成像、脈絡(luò)膜結(jié)構(gòu)、結(jié)晶晶體等內(nèi)部3D成像，提供高速、清晰、一定深度的3D 成像。ST830E可省去Camera-Link采集卡的成本，配有即插即用的USB3.0接口，讓用戶在筆記本即可實(shí)現(xiàn)高分辨率、高速成像。
測試結(jié)果和應(yīng)用
SLD寬帶光源譜圖
干涉譜圖
Falloff數(shù)據(jù)
OCT系統(tǒng)-3D實(shí)時(shí)成像結(jié)果
應(yīng)用領(lǐng)域醫(yī)用OCT：血管造影、視網(wǎng)膜和眼前房成像
工業(yè)用OCT：激光震蕩、金屬切割焊接檢測、電子顯示屏平整度檢測
其他OCT檢測：多層涂料均勻程度檢測、結(jié)晶晶體結(jié)構(gòu)密度實(shí)時(shí)監(jiān)測
技術(shù)特點(diǎn)?特殊光路設(shè)計(jì)，硬件上可實(shí)現(xiàn)波數(shù)等間隔采樣
?干涉光譜可直接FFT，無需波數(shù)重采樣算法，降低數(shù)據(jù)處理復(fù)雜度，提升系統(tǒng)信噪比
?高效的VPH光柵，接近衍射極限的光學(xué)分辨率
?高線掃描速率：高達(dá)250kHz
?USB3.0接口可實(shí)現(xiàn)20-130kHz掃描速率，OEM更加高效簡單
?波長范圍、相機(jī)均可根據(jù)需求定制
?工藝穩(wěn)固成熟，無需頻繁校準(zhǔn)
產(chǎn)品參數(shù)探測器 | 性能指標(biāo) | 參數(shù) |
類型 | 線陣CMOS | |
有效像素 | 2048pixels | |
像元尺寸 | 10*200um | |
感光面積 | 20.52*0.2mm | |
線掃速度 | 130kHz/250kHz | |
光學(xué)參數(shù) | 波長范圍 | 790-910nm(可依據(jù)需求定制不同范圍) |
光學(xué)分辨率 | 0.07nm（由不同波段范圍而定） | |
成像深度 | 2.4mm | |
光學(xué)設(shè)計(jì) | VPH光柵&波數(shù)線性設(shè)計(jì) | |
焦距 | 100mm | |
入射光接口 | FC/APC 光纖接口 | |
電氣參數(shù) | 數(shù)據(jù)輸出接口 | USB3.0(最大130kHz)/Camera Link(最大250kHz) |
ADC 位深 | 12bit | |
供電電源 | DC6to 15V | |
工作電流 | ＜600mA | |
工作溫度 | 0°C~50°C | |
存儲(chǔ)溫度 | -20°C~60°C | |
工作濕度 | ＜90%RH（不結(jié)露） | |
物理參數(shù) | 尺寸 | 275*80*60.5mm |
重量 | 1.5kg |
關(guān)聯(lián)產(chǎn)品
